NanoSurf ARAC 常压Qplus-AFM扫描探针测试系统

仪器介绍

NanoSurf ARAC 常压Qplus-AFM扫描探针测试系统是一款基于Qplus 传感器的非接触原子力显微镜,在传统的AFM基础上进一步提升了空间分辨率,为研究常温条件下表面物理化学过程提供了新的成像和力学表征方法。它具有高度的灵活性和完整的工具包设计可提供用户自定义和个性化功能。该仪器配备脚本开发和凯尔文探针选件,支持用户设备开发和研究。

主要技术指标

  • 常温条件下实现原子级分辨率的图像
  • 样品台X,Y方向移动范围≥10mm, Z方向≥7mm,最大样品高度:6m’mm
  • Qplus传感器:力梯度分辨率:200mN/m (100Hz带宽);传感器噪声≤50fm/Hz
  • 辅助光学系统:顶视相机分辨率≤700nm

注意事项

  • 使用结束请如实登记使用机时和设备状况
  • 还有疑问请咨询设备管理员